CSK-IA試塊和翻轉(zhuǎn)架技術(shù)參數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)：《NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》
CSK-IA 試塊是承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊,CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的
主要用途:
1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;
2利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;
7利 用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
CSK-ⅠA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)
主要用途：
①利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度；
②利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角；
③利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況；
④利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
⑤利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑥利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度；
⑦利用φ50、φ44和φ40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
