UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)產(chǎn)品用途

該款紫外輻照計(jì)采用 SMT 貼片技術(shù)，選用低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

 UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)性能特點(diǎn)

* 光譜及角度特性經(jīng)校正

* 數(shù)字液晶顯示，帶背光

* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換

* 數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）

* 低電量提醒

* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)

* 有數(shù)字保持

* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

UV-UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)技術(shù)參數(shù)

*  波長(zhǎng) 范圍及峰值波長(zhǎng)：( 以下兩種選其一) 

（1）UV-340 探頭：λ：(315～370)nm；λ P ＝340nm

（2）UV-313 探頭：λ：(290～340)nm；λ P ＝313nm

*  輻照度測(cè)量范圍：

(0.1～199.9×103 ) μW/cm 2

*  紫外帶外區(qū)雜光：

UV313：小于 0.05%

UV340：小于 0.05%

*  相對(duì)示值誤差：±10%（相對(duì)與 NIM 標(biāo)準(zhǔn)）

*  角度響應(yīng)特性：±5%(α ≤10°)

*  線性誤差：±1%

*  換檔誤差：±1%

*  短期不穩(wěn)定性：±1%（開(kāi)機(jī) 30min 后）

*  疲勞特性：衰減量小于 2%

*  零值誤差：滿量程的±1%

*  響應(yīng)時(shí)間：1 秒

*  使用環(huán)境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH

*  尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

*  電源 ： 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只

亦可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電

整機(jī)功耗 ＜0.1VA