-
傳統(tǒng)表面粗糙度測(cè)量?jī)x的工作原理
粗糙度儀1.1針描法針描法又稱觸針?lè)?。?dāng)觸針直接在工件被測(cè)表面上輕輕劃過(guò)時(shí)，由于被測(cè)表面輪廓峰谷起伏，觸針將在垂直于被測(cè)輪廓表面方向上產(chǎn)生上下移動(dòng)，把這種移通過(guò)電子裝置把信號(hào)加以放大，然后通過(guò)指零表或其它輸出裝置將有關(guān)粗糙度的數(shù)據(jù)或圖形輸出來(lái)1.2粗糙度儀的工作原理采用針描法原理的表面粗糙度測(cè)量?jī)x由傳感器、驅(qū)動(dòng)器、指零表、記錄器和電感傳感器是輪廓儀的主要部件之一，其工作原理見(jiàn)圖2，在傳感器測(cè)桿的一
發(fā)布時(shí)間：2010-12-11 10:11
點(diǎn)擊次數(shù)：19829 次
-
為什么粗糙度儀出現(xiàn)超差測(cè)值不穩(wěn)定
粗糙度儀出現(xiàn)超差，測(cè)值不穩(wěn)定問(wèn)題的解答出現(xiàn)上述原因，基本是傳感器出了問(wèn)題。簡(jiǎn)單介紹一下傳感器原理，國(guó)際上任何一家粗糙度儀傳感器包括兩種方式，一種叫壓電晶體，一種叫電感，其中壓電傳感器成本較低價(jià)格比較低廉，但是受環(huán)境濕度影響較大，當(dāng)濕度超過(guò)60％后，出現(xiàn)不顯示RA值或超差，原因是壓電晶體內(nèi)部潮濕有水汽，主要發(fā)生在南方雨季季節(jié)，建議放置干燥地方，不用的時(shí)候放在干燥箱了。 粗糙度儀
發(fā)布時(shí)間：2010-12-11 10:07
點(diǎn)擊次數(shù)：1757 次
-
內(nèi)徑百分表作業(yè)指導(dǎo)書(shū)
作業(yè)指導(dǎo)書(shū) 文件編號(hào)：TJEU-LA-33 第1版 第1次修改 第1頁(yè)共5頁(yè)標(biāo)題：內(nèi)徑百分表（校準(zhǔn)）操作程序 實(shí)施日期：2007-12-01一、 依據(jù)依據(jù)JJF1102-2003《內(nèi)徑表校準(zhǔn)規(guī)范》。二、 環(huán)境條件：溫度（20±10）℃，濕度≤85%RH。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備名稱 型號(hào) 測(cè)量范圍 準(zhǔn)確度
發(fā)布時(shí)間：2010-12-07 22:24
點(diǎn)擊次數(shù)：3225 次
-
百分表作業(yè)指導(dǎo)書(shū)
作業(yè)指導(dǎo)書(shū)作業(yè),指導(dǎo)目錄序號(hào) 主題 文件編號(hào)1.1 百分表、內(nèi)徑百分表（校準(zhǔn)）操作程序 TJEU-LA-32TJEU-LA-332.1 百分表、內(nèi)徑百分表示值誤差不確定度評(píng)定 TJEU-LB-32TJEU-LB-333.1 百分表檢定儀期間核查 TJEU-LC-32
發(fā)布時(shí)間：2010-12-07 22:19
點(diǎn)擊次數(shù)：4256 次
-
GB/T 5254-85鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法
GB/T5254-85鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法 中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 鍺單晶晶向X光衍射測(cè)定方法 GB/T5254-85——————————————————————————————————————本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定鍺單晶棒及片的晶向。1原理 當(dāng)一束波長(zhǎng)為λ的單色X光入射到單晶表面，與晶體主晶面之間的掠
發(fā)布時(shí)間：2010-12-05 09:26
點(diǎn)擊次數(shù)：3518 次
-
GB/T 4835-84 輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀
GB/T4835-84輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀 中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) GB/T4835-84 輻射防護(hù)用攜帶式Ｘ、γ輻射劑量率儀和監(jiān)測(cè)儀───────────────────────────
發(fā)布時(shí)間：2010-12-05 09:15
點(diǎn)擊次數(shù)：2403 次
-
GB/T4075--83 密封 放 射 源 分 級(jí)
GB/T4075--83密封放射源分級(jí) 中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) GB/T4075--83 密封放射源分級(jí)━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 本標(biāo)準(zhǔn)系按照密封放射源的各
發(fā)布時(shí)間：2010-11-29 08:46
點(diǎn)擊次數(shù)：5158 次
-
GB/T 5677-85鑄鋼件射線照相及底片等級(jí)分類方法
GB/T5677-85鑄鋼件射線照相及底片等級(jí)分類方法中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5677-85鑄鋼件射線照相及底片等級(jí)分類方法 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了厚度為5~300mm鑄鋼件的X射線、γ射線照相方法及射線底片等級(jí)分類方法。1 射線照相方法1.1 射線照相方法的要求1.1.1 鑄鋼件表面必須清理干凈，經(jīng)外觀檢查合格后才能進(jìn)行射線照相。1.1.2 工件表面應(yīng)采用**性或半**性標(biāo)記作為對(duì)每張射線底片重
發(fā)布時(shí)間：2010-11-29 08:44
點(diǎn)擊次數(shù)：6247 次
